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基于PXI的半导体测试系统:先进的测试能力和特性

今天的半导体测试工程师面临不断的挑战是识别和创建新的测试方案,能够提供极低的测试成本,还要满足可配置、开放性架构、柔性测试方案等要求,能够提供可比性的性能到专用的自动化测试平台。

特别是,低到中等产量例如试用品生产、验证、和大量生产等等不同的测试应用,要满足这些不同的测试要求,对柔性和成本效益的自动化测试方案的要求就是显得特别重要。为了满足这些应用,测试工程师一直依赖于以前的测试系统,有很低的采购成本但是有高昂的操作成本或者自己设计、机架和堆积解决方案。

拥有定时每针脚、PMU每针脚、和先进的软件工具,PXI基半导体测试系统解决方案的优势能够为测试工程师提供柔性又高性能,可满足现在和将来的测试需要。

我们的TS-960e PXI Express半导体测试系统提供高性能数字、混合信号、和射频测试功能,该系统外壳紧凑、单机箱外形具有定时每针脚架构,还有亚纳秒边沿布局和64倍集合。加上是德科技的全系列PXIe射频仪器,可满足广泛的射频应用,TS-960e提供即用的测试系统,如果需要还可以现场升级和重新配置。

TS-960e是我们整体半导体测试方案系列的一部分,包括:

  • TS-900系列PXI基集成半导体测试平台
  • TS-960系列PXI半导体测试系统,带有定时每针脚数字子系统
  • MTEK (测试扩展套装) 测试仪升级方案,适用于传统测试系统包括Eagle、Teradyne、LTX、Credence、ASL 1000、Sentry
  • ICEasy半导体测试软件
 
 
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